diff --git a/Case/单通道Z芯片/新造的Case/单通道Z测试大纲_2609/单通道Z测试仿真波形/单通道Z测试仿真波形.md b/Case/单通道Z芯片/新造的Case/单通道Z测试大纲_2609/单通道Z测试仿真波形/单通道Z测试仿真波形.md index 4381122..fb9b89c 100644 --- a/Case/单通道Z芯片/新造的Case/单通道Z测试大纲_2609/单通道Z测试仿真波形/单通道Z测试仿真波形.md +++ b/Case/单通道Z芯片/新造的Case/单通道Z测试大纲_2609/单通道Z测试仿真波形/单通道Z测试仿真波形.md @@ -6,6 +6,266 @@ 以下仅展示仿真示例。 + + +| 数字功能 | 复位与配置 | 时钟寄存器配置功能 | TC_CFG_CLK | +| :----------: | :----------: | :------------------: | :-------------------------: | +| 数字功能 | 复位与配置 | 硬件复位功能 | TC_HW_RST | +| 数字功能 | 复位与配置 | 系统软件复位功能 | TC_SYS_SF_RST | +| 数字功能 | 复位与配置 | 通道软件复位功能 | TC_CH0_SF_RST | +| 数字功能 | 复位与配置 | 寄存器配置功能 | TC_CFG_REG | +| 数字功能 | 复位与配置 | 调试存储配置功能 | TC_CFG_RAM_DBG | +| 数字功能 | 复位与配置 | 随机数存储配置功能 | TC_CFG_RAM_PRNG | +| 数字功能 | 复位与配置 | MCU指令存储配置功能 | TC_CFG_RAM_ICCM | +| 数字功能 | 复位与配置 | MCU数据存储配置功能 | TC_CFG_RAM_DCCM | +| 数字功能 | 复位与配置 | 包络存储配置功能 | TC_CFG_RAM_ENVE | +| 数字功能 | 复位与配置 | 包络索引存储配置功能 | TC_CFG_RAM_ENVEID | +| 数字功能 | 同步 | 同步启动 | TC_SYNC_START | +| 数字功能 | 同步 | 同步输出 | TC_SYNC_OUTPUT | +| 数字功能 | 同步 | 同步调节 | TC_SYNC_ADJ | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为0同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_0 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为1同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_1 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为2同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_2 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为3同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_3 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为4同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_4 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为5同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_5 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为6同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_6 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为7同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_7 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为8同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_8 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为9同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_9 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为10同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_10 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为11同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_11 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为12同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_12 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为13同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_13 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为14同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_14 | +| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为15同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_15 | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_ADD | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SUB | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLL | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLT | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLTU | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_XOR | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRL | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRA | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_OR | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_AND | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_ADDI | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLTI | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLTIU | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_XORI | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_ORI | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_ANDI | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLLI | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRLI | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRAI | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LB | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LH | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LW | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LBU | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LHU | +| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRAI | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_0 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_1 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_2 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_3 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_4 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_5 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_6 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_7 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_8 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_9 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_10 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_11 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_12 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_13 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_14 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_15 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_16 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_17 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_18 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_19 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_20 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_21 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_22 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_23 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_24 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_25 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_26 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_27 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_28 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_29 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_30 | +| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_31 | +| 数字功能 | MCU | MCU数据存储区 | TC_MCU_DCCM | +| 数字功能 | MCU | MCU数据存储区 | TC_MCU_REG | +| 数字功能 | MCU | MCU数据存储区 | TC_MCU_PRNG | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_ALL0 | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_ALL1 | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SLLI | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SRLI | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SRAI | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_0xF000_0000 | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SH_UA | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SW01_UA | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SW02_UA | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SW03_UA | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_LH_UA | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_LW01_UA | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_LW02_UA | +| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_LW03_UA | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_0 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_1 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_2 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_3 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_4 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_5 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_6 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_7 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_8 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_9 | +| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_10 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_0 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_1 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_2 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_3 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_4 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_5 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_6 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_7 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_8 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_9 | +| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_10 | +| 数字功能 | 乘法器 | 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基频NCO载波扫频 | TC_FFNCO_FREQ_SCAN_500M | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫频 | TC_FFNCO_FREQ_SCAN_1000M | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫频 | TC_FFNCO_FREQ_SCAN_1500M | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_0DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_1DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_10DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_45DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_90DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_135DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_180DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_225DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_270DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_315DEG | +| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_360DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_1M | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_100M | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_500M | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_1000M | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_1500M | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_0DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_1DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_10DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_45DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_90DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_135DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_180DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_225DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_270DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_315DEG | +| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_360DEG | +| 数字功能 | AWG | NCO载波相位清零 | TC_FMNCO_PHA_CLR | +| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_COSINE_10 | +| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_COSINE_100 | +| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_COSINE_1000 | +| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_FLATTOP_10 | +| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_FLATTOP_100 | +| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_FLATTOP_1000 | +| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_RECTANGLE_10 | +| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_RECTANGLE_100 | +| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_RECTANGLE_1000 | +| 数字功能 | AWG | AWG调幅输出 | TC_AWG_AMP | +| 数字功能 | AWG | AWG调频输出 | TC_AWG_FREQ | +| 数字功能 | AWG | AWG调相输出 | TC_AWG_PHA | +| 数字功能 | AWG | AWG调偏输出 | TC_AWG_BIAS | +| 数字功能 | AWG | 反馈输出 | TC_AWG_FB_00 | +| 数字功能 | AWG | 反馈输出 | TC_AWG_FB_01 | +| 数字功能 | AWG | 反馈输出 | TC_AWG_FB_10 | +| 数字功能 | AWG | 反馈输出 | TC_AWG_FB_11 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_0 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_1 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_2 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_3 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_4 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_5 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_6 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_7 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_8 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_9 | +| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_10 | +| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_CTRL_POLL | +| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_CTRL_MASK | +| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_ALARM_MCU | +| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_ALARM_AWG | +| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_ALARM_DEBUG | +| 模拟功能测试 | DAC波形输出 | DAC波形输出 | TC_DAC_OUTPUT_100M | +| 模拟功能测试 | DAC波形输出 | DAC波形输出 | TC_DAC_OUTPUT_500M | +| 模拟功能测试 | DAC波形输出 | DAC波形输出 | TC_DAC_OUTPUT_1000M | +| 模拟功能测试 | DAC波形输出 | DAC波形输出 | TC_DAC_OUTPUT_1500M | +| 模拟功能测试 | 温度回读功能 | 温度回读功能 | TC_TEMP_READOUT | +| 系统性能测试 | SPI配置速率 | SPI连续读写性能 | TC_SPI_BURST | +| 系统性能测试 | SPI配置速率 | SPI单次读写性能 | TC_SPI_SINGLE | +| 系统性能测试 | 功耗测试 | 功耗测试 | TC_POWER_0%~100% | +| 系统性能测试 | 输出延迟测试 | 输出延迟测试 | TC_OUTPUT_DELAY | +| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO频率调节步进 | TC_NCO_FREQ_STEP | +| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO相位调节步进 | TC_NCO_PHA_STEP | +| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO频率调节范围 | TC_NCO_FREQ_RANG | +| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO相位调节范围 | TC_NCO_PHA_RANG | +| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO频率调节速度 | TC_NCO_FREQ_SPEED | +| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO相位调节速度 | TC_NCO_PHA_SPEED | +| 数字性能测试 | AWG性能测试 | 输出单个波形最小长度 | TC_AWG_SINGLE_WAVE_MIN | +| 数字性能测试 | AWG性能测试 | 输出单个波形最大长度 | 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| 温漂性能 | AWG偏置调节速度 | TC_ADC_DRIFT | +| 可靠性测试 | 温漂性能 | AWG偏置调节速度 | TC_PLL_DRIFT | +| 可靠性测试 | 老化测试 | AWG偏置调节速度 | TC_ZPU_OLD | +| 可靠性测试 | ESD测试 | AWG偏置调节速度 | TC_ZPU_ESD | +| 可靠性测试 | 震动测试 | AWG偏置调节速度 | TC_ZPU_VIB | + ### AWG模块 #### NCO diff --git a/Case/单通道Z芯片/新造的Case/单通道Z测试大纲_2609/单通道Z测试仿真波形/单通道Z测试仿真波形.pdf b/Case/单通道Z芯片/新造的Case/单通道Z测试大纲_2609/单通道Z测试仿真波形/单通道Z测试仿真波形.pdf new file mode 100644 index 0000000..4f81995 Binary files /dev/null and b/Case/单通道Z芯片/新造的Case/单通道Z测试大纲_2609/单通道Z测试仿真波形/单通道Z测试仿真波形.pdf differ diff --git a/Z_case_Generator_V2.0/ZChipConfig.py b/Z_case_Generator_V2.0/ZChipConfig.py index ded2be1..da8c4cb 100644 --- a/Z_case_Generator_V2.0/ZChipConfig.py +++ b/Z_case_Generator_V2.0/ZChipConfig.py @@ -265,9 +265,8 @@ class ZChipConfig(object): fixed_enable = kwargs.pop('fixed_enable') if fixed_enable: # 打开固定值使能位，把值填进去就好 fixed_value = kwargs.pop('fixed_value') - ramp_spi_registers += [1 << 15 | fixed_value << 16] self.write_register(addr_base['CTRL0_BASE'] + reg_define['ctrl_reg']['SPI_RAMPFIXR'], # 常数寄存器 - ramp_spi_registers) + 1 << 15 | fixed_value << 16) else: ramp_spi_registers += [0 << 15] # 不是固定值模式，常数寄存器给0就好 height = kwargs.pop('height', 0) diff --git a/Z_case_Generator_V2.0/__pycache__/ZChipConfig.cpython-311.pyc b/Z_case_Generator_V2.0/__pycache__/ZChipConfig.cpython-311.pyc index 0603120..786ae68 100644 Binary files a/Z_case_Generator_V2.0/__pycache__/ZChipConfig.cpython-311.pyc and b/Z_case_Generator_V2.0/__pycache__/ZChipConfig.cpython-311.pyc differ diff --git a/Z_case_Generator_V2.0/z_case_gen.ipynb b/Z_case_Generator_V2.0/z_case_gen.ipynb index 3278aa3..b342f5f 100644 --- a/Z_case_Generator_V2.0/z_case_gen.ipynb +++ b/Z_case_Generator_V2.0/z_case_gen.ipynb @@ -2,7 +2,7 @@ "cells": [ { "cell_type": "code", - "execution_count": 26, + "execution_count": 1, "id": "initial_id", "metadata": { "ExecuteTime": { @@ -11,16 +11,7 @@ }, "collapsed": true }, - "outputs": [ - { - "name": "stdout", - "output_type": "stream", - "text": [ - 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