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WangGY/报告/Z芯片测试报告_2609.md

473 B
Raw Blame History

Z芯片测试报告_2609

数字功能测试

AWG模块

NCO模式

正弦波频率控制

测试ID:

image-20260826105426275

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![ScreenImg (2)](./Z芯片测试报告_2609.assets/ScreenImg (2).png)

模拟功能测试

![ScreenImg (3)](./Z芯片测试报告_2609.assets/ScreenImg (3).png)