修复单通道兼容性bug
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43b1b7554c
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88589b4380
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@ -6,6 +6,266 @@
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以下仅展示仿真示例。
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| 数字功能 | 复位与配置 | 时钟寄存器配置功能 | TC_CFG_CLK |
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| :----------: | :----------: | :------------------: | :-------------------------: |
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| 数字功能 | 复位与配置 | 硬件复位功能 | TC_HW_RST |
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| 数字功能 | 复位与配置 | 系统软件复位功能 | TC_SYS_SF_RST |
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| 数字功能 | 复位与配置 | 通道软件复位功能 | TC_CH0_SF_RST |
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| 数字功能 | 复位与配置 | 寄存器配置功能 | TC_CFG_REG |
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| 数字功能 | 复位与配置 | 调试存储配置功能 | TC_CFG_RAM_DBG |
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| 数字功能 | 复位与配置 | 随机数存储配置功能 | TC_CFG_RAM_PRNG |
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| 数字功能 | 复位与配置 | MCU指令存储配置功能 | TC_CFG_RAM_ICCM |
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| 数字功能 | 复位与配置 | MCU数据存储配置功能 | TC_CFG_RAM_DCCM |
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| 数字功能 | 复位与配置 | 包络存储配置功能 | TC_CFG_RAM_ENVE |
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| 数字功能 | 复位与配置 | 包络索引存储配置功能 | TC_CFG_RAM_ENVEID |
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| 数字功能 | 同步 | 同步启动 | TC_SYNC_START |
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| 数字功能 | 同步 | 同步输出 | TC_SYNC_OUTPUT |
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| 数字功能 | 同步 | 同步调节 | TC_SYNC_ADJ |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为0同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_0 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为1同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_1 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为2同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_2 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为3同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_3 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为4同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_4 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为5同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_5 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为6同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_6 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为7同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_7 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为8同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_8 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为9同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_9 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为10同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_10 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为11同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_11 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为12同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_12 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为13同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_13 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为14同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_14 |
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| 数字功能 | 同步 | 同步抽头为15同步采样 | TC_SYNC_SAMPLE_15 |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_ADD |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SUB |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLL |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLT |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLTU |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_XOR |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRL |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRA |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_OR |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_AND |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_ADDI |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLTI |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLTIU |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_XORI |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_ORI |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_ANDI |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SLLI |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRLI |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRAI |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LB |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LH |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LW |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LBU |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_LHU |
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| 数字功能 | MCU | 基本指令测试 | TC_MCU_ISR_SRAI |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_0 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_1 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_2 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_3 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_4 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_5 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_6 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_7 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_8 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_9 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_10 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_11 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_12 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_13 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_14 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_15 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_16 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_17 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_18 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_19 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_20 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_21 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_22 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_23 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_24 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_25 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_26 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_27 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_28 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_29 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_30 |
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| 数字功能 | MCU | MCU通用寄存器组 | TC_MCU_GR_31 |
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| 数字功能 | MCU | MCU数据存储区 | TC_MCU_DCCM |
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| 数字功能 | MCU | MCU数据存储区 | TC_MCU_REG |
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| 数字功能 | MCU | MCU数据存储区 | TC_MCU_PRNG |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_ALL0 |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_ALL1 |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SLLI |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SRLI |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SRAI |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_0xF000_0000 |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SH_UA |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SW01_UA |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SW02_UA |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_SW03_UA |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_LH_UA |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_LW01_UA |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_LW02_UA |
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| 数字功能 | MCU | MCU异常 | TC_MCU_EX_INSTR_LW03_UA |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_0 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_1 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_2 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_3 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_4 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_5 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_6 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_7 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_8 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_9 |
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| 数字功能 | MCU | MCU综合测试 | TC_MCU_COMP_10 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_0 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_1 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_2 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_3 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_4 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_5 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_6 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_7 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_8 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_9 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 16x16乘法器 | TC_MUL_16x16_10 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_0 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_1 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_2 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_3 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_4 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_5 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_6 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_7 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_8 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_9 |
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| 数字功能 | 乘法器 | 12x20乘法器 | TC_MUL_12x20_10 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_0 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_1 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_2 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_3 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_4 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_5 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_6 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_7 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_8 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_9 |
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| 数字功能 | 拖尾矫正 | 拖尾矫正 | TC_TCORR_10 |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫频 | TC_FFNCO_FREQ_SCAN_1M |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫频 | TC_FFNCO_FREQ_SCAN_100M |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫频 | TC_FFNCO_FREQ_SCAN_500M |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫频 | TC_FFNCO_FREQ_SCAN_1000M |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫频 | TC_FFNCO_FREQ_SCAN_1500M |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_0DEG |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_1DEG |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_10DEG |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_45DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_90DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_135DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_180DEG |
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| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_225DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_270DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_315DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 基频NCO载波扫相 | TC_FFNCO_PHA_SCAN_360DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_1M |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_100M |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_500M |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_1000M |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫频 | TC_FMNCO_FREQ_SCAN_1500M |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_0DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_1DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_10DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_45DEG |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_90DEG |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_135DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_180DEG |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_225DEG |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_270DEG |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_315DEG |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 倍频NCO载波扫相 | TC_FMNCO_PHA_SCAN_360DEG |
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||||
| 数字功能 | AWG | NCO载波相位清零 | TC_FMNCO_PHA_CLR |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_COSINE_10 |
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| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_COSINE_100 |
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| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_COSINE_1000 |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_FLATTOP_10 |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_FLATTOP_100 |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_FLATTOP_1000 |
|
||||
| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_RECTANGLE_10 |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_RECTANGLE_100 |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG包络直出 | TC_AWG_ENVE_RECTANGLE_1000 |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG调幅输出 | TC_AWG_AMP |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG调频输出 | TC_AWG_FREQ |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG调相输出 | TC_AWG_PHA |
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||||
| 数字功能 | AWG | AWG调偏输出 | TC_AWG_BIAS |
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||||
| 数字功能 | AWG | 反馈输出 | TC_AWG_FB_00 |
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||||
| 数字功能 | AWG | 反馈输出 | TC_AWG_FB_01 |
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||||
| 数字功能 | AWG | 反馈输出 | TC_AWG_FB_10 |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 反馈输出 | TC_AWG_FB_11 |
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||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_0 |
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||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_1 |
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||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_2 |
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||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_3 |
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||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_4 |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_5 |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_6 |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_7 |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_8 |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_9 |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 组合调制输出 | TC_AWG_COMB_10 |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_CTRL_POLL |
|
||||
| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_CTRL_MASK |
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||||
| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_ALARM_MCU |
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||||
| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_ALARM_AWG |
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||||
| 数字功能 | AWG | 异常上报 | TC_IRQ_ALARM_DEBUG |
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||||
| 模拟功能测试 | DAC波形输出 | DAC波形输出 | TC_DAC_OUTPUT_100M |
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||||
| 模拟功能测试 | DAC波形输出 | DAC波形输出 | TC_DAC_OUTPUT_500M |
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||||
| 模拟功能测试 | DAC波形输出 | DAC波形输出 | TC_DAC_OUTPUT_1000M |
|
||||
| 模拟功能测试 | DAC波形输出 | DAC波形输出 | TC_DAC_OUTPUT_1500M |
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||||
| 模拟功能测试 | 温度回读功能 | 温度回读功能 | TC_TEMP_READOUT |
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||||
| 系统性能测试 | SPI配置速率 | SPI连续读写性能 | TC_SPI_BURST |
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||||
| 系统性能测试 | SPI配置速率 | SPI单次读写性能 | TC_SPI_SINGLE |
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||||
| 系统性能测试 | 功耗测试 | 功耗测试 | TC_POWER_0%~100% |
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||||
| 系统性能测试 | 输出延迟测试 | 输出延迟测试 | TC_OUTPUT_DELAY |
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||||
| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO频率调节步进 | TC_NCO_FREQ_STEP |
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||||
| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO相位调节步进 | TC_NCO_PHA_STEP |
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||||
| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO频率调节范围 | TC_NCO_FREQ_RANG |
|
||||
| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO相位调节范围 | TC_NCO_PHA_RANG |
|
||||
| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO频率调节速度 | TC_NCO_FREQ_SPEED |
|
||||
| 数字性能测试 | NCO性能测试 | NCO相位调节速度 | TC_NCO_PHA_SPEED |
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||||
| 数字性能测试 | AWG性能测试 | 输出单个波形最小长度 | TC_AWG_SINGLE_WAVE_MIN |
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||||
| 数字性能测试 | AWG性能测试 | 输出单个波形最大长度 | TC_AWG_SINGLE_WAVE_MAX |
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||||
| 数字性能测试 | AWG性能测试 | 输出背靠背波形 | TC_AWG_BACK_WAVE |
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||||
| 数字性能测试 | AWG性能测试 | AWG幅度调节步进 | TC_AWG_AMP_STEP |
|
||||
| 数字性能测试 | AWG性能测试 | AWG偏置调节步进 | TC_NCO_BIAS_STEP |
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||||
| 数字性能测试 | AWG性能测试 | AWG幅度调节范围 | TC_AWG_AMP_RANG |
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||||
| 数字性能测试 | AWG性能测试 | AWG偏置调节范围 | TC_AWG_BIAS_RANG |
|
||||
| 数字性能测试 | AWG性能测试 | AWG幅度调节速度 | TC_AWG_AMP_SPEED |
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||||
| 数字性能测试 | AWG性能测试 | AWG偏置调节速度 | TC_AWG_BIAS_SPEED |
|
||||
| 模拟性能测试 | DAC性能测试 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_FREQ |
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||||
| 模拟性能测试 | DAC性能测试 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_BW |
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||||
| 模拟性能测试 | DAC性能测试 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_POW |
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||||
| 模拟性能测试 | DAC性能测试 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_DNL |
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||||
| 模拟性能测试 | DAC性能测试 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_STB |
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| 模拟性能测试 | DAC性能测试 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_SFDR |
|
||||
| 模拟性能测试 | DAC性能测试 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_NSD |
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| 模拟性能测试 | DAC性能测试 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_PN |
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| 可靠性测试 | 电压范围 | AWG偏置调节速度 | TC_CORE_RANG |
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| 可靠性测试 | 电压范围 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_RANG |
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| 可靠性测试 | 纹波抑制 | AWG偏置调节速度 | TC_CORE_PRSS |
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| 可靠性测试 | 纹波抑制 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_PRSS |
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||||
| 可靠性测试 | 温漂性能 | AWG偏置调节速度 | TC_DAC_DRIFT |
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||||
| 可靠性测试 | 温漂性能 | AWG偏置调节速度 | TC_ADC_DRIFT |
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||||
| 可靠性测试 | 温漂性能 | AWG偏置调节速度 | TC_PLL_DRIFT |
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||||
| 可靠性测试 | 老化测试 | AWG偏置调节速度 | TC_ZPU_OLD |
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| 可靠性测试 | ESD测试 | AWG偏置调节速度 | TC_ZPU_ESD |
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| 可靠性测试 | 震动测试 | AWG偏置调节速度 | TC_ZPU_VIB |
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### AWG模块
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#### NCO
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Binary file not shown.
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@ -265,9 +265,8 @@ class ZChipConfig(object):
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fixed_enable = kwargs.pop('fixed_enable')
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||||
if fixed_enable: # 打开固定值使能位，把值填进去就好
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||||
fixed_value = kwargs.pop('fixed_value')
|
||||
ramp_spi_registers += [1 << 15 | fixed_value << 16]
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||||
self.write_register(addr_base['CTRL0_BASE'] + reg_define['ctrl_reg']['SPI_RAMPFIXR'], # 常数寄存器
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||||
ramp_spi_registers)
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||||
1 << 15 | fixed_value << 16)
|
||||
else:
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||||
ramp_spi_registers += [0 << 15] # 不是固定值模式，常数寄存器给0就好
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||||
height = kwargs.pop('height', 0)
|
||||
|
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|||
Binary file not shown.
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@ -2,7 +2,7 @@
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|||
"cells": [
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||||
{
|
||||
"cell_type": "code",
|
||||
"execution_count": 26,
|
||||
"execution_count": 1,
|
||||
"id": "initial_id",
|
||||
"metadata": {
|
||||
"ExecuteTime": {
|
||||
|
|
@ -11,16 +11,7 @@
|
|||
},
|
||||
"collapsed": true
|
||||
},
|
||||
"outputs": [
|
||||
{
|
||||
"name": "stdout",
|
||||
"output_type": "stream",
|
||||
"text": [
|
||||
"The autoreload extension is already loaded. To reload it, use:\n",
|
||||
" %reload_ext autoreload\n"
|
||||
]
|
||||
}
|
||||
],
|
||||
"outputs": [],
|
||||
"source": [
|
||||
"# _配置\n",
|
||||
"# TODO: 完整的定向case测试集\n",
|
||||
|
|
@ -195,7 +186,7 @@
|
|||
},
|
||||
{
|
||||
"cell_type": "code",
|
||||
"execution_count": 23,
|
||||
"execution_count": 2,
|
||||
"id": "47c22172d77fc331",
|
||||
"metadata": {
|
||||
"ExecuteTime": {
|
||||
|
|
@ -289,7 +280,7 @@
|
|||
},
|
||||
{
|
||||
"cell_type": "code",
|
||||
"execution_count": 39,
|
||||
"execution_count": 3,
|
||||
"id": "4f0fa3c90ad0d570",
|
||||
"metadata": {
|
||||
"ExecuteTime": {
|
||||
|
|
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|||
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