Chip_Case_Generator/Case/单通道Z芯片/天鸿造的Case/文档/Case测试列表.md

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Raw Blame History

==目前天鸿完成的CASE==

功耗测试

100MHz单音NCO载波调制的余弦波形(单频点)

100MHz单音NCO载波调制的余弦波形(双频点)

拖尾矫正功耗

数字功能测试

复位

硬件复位功能

系统软件复位功能

通道软件复位功能

配置

时钟寄存器配置功能

寄存器配置功能

存储器配置功能

同步

同步启动

同步输出

同步调节

同步采样

MCU测试项

MCU基本指令

MCU通用寄存器

MCU数据存储区

MCU异常测试

MCU综合测试

乘法器

16x16乘法器

12x20乘法器

RAMP

台阶高度,台阶宽度

AWG

单音NCO

扫频,扫相

双音NCO

扫频,扫相

包络直出

包络加载功能:Cosine包络,Flattop包络,Rect包络

包络调幅输出

调制输出

背靠背输出

组合调制输出:case0~case10 (包括调幅调相)

双频点输出

拖尾矫正

case0~case10

==我需要新增的CASE==

调偏输出

打一个正弦包络加一个NCO调制波形,改变偏置量

反馈输出

发一个反馈控制指令,看一下芯片波形有没有变化。和不发可以对比下。

异常上报功能

不太动异常上报要怎么操作,测试大纲里面写的不清楚

TC_IRQ_ALARM_?
测试目的 测试芯片异常上报功能是否符合设计要求
测试方法 Function_Data
测试条件 1. pow_in端口: 电压2.5v,限流2A 2. clk_in端口:频率6 GHz,功率5 dBm 3. 配置1:tc_irq_alarm_?.txt 4. 配置2:tc_irq_alarm_?_read.txt
测试方法 1. 通过配置1向芯片写入数据,然后启动同步触发命令 2. 通过配置2回读指定存储区数据
合格判据 1. 回读数据td_irq_alarm_?_read.txt与参考值tr_irq_alarm_?_read.txt相同

【注】TC_IRQ_ALARM_? 中的 ? 为通配符,? 指代 中断类型:MCU、AWG、Debug。

异常管理

不太动异常管理要怎么操作,测试大纲里面写的不清楚

TC_IRQ_CTRL_?
测试目的 测试芯片异常管理功能是否符合设计要求
测试方法 Function_Data
测试条件 1. pow_in端口: 电压2.5v,限流2A 2. clk_in端口:频率6 GHz,功率5 dBm 3. 配置1:tc_irq_ctrl_?.txt 4. 配置2:tc_irq_ctrl_?_read.txt
测试方法 1. 通过配置1向芯片写入数据,然后启动同步触发命令 2. 通过配置2回读指定存储区数据
合格判据 1. 回读数据td_irq_ctrl_?_read.txt与参考值tr_irq_ctrl_?_read.txt相同

【注】TC_IRQ_CTRL_? 中的 ? 为通配符,? 指代 管理功能项:中断状态查询、中断状态屏蔽。

温度回读功能

发一个Case读回温度

NCO频率调节步进

NCO相位调节步进

NCO频率调节范围

NCO相位调节范围

NCO相位调节速度

输出单个波形最小长度

输出单个波形最大长度

AWG幅度调节速度